- 产品详情
- 在线询价
- 应用领域
一、产品概述
核心定位：高分辨率可编程半导体曲线图示仪，用于器件直流参数表征与 I‑V 特性测试泰
源测能力：最高2000V、10A（DC）/20A（脉冲），单通道最大220W
测量分辨率：电流1nA、电压2mV，支持 Kelvin（开尔文） 四线测量
控制方式：本地面板操作 + GPIB（IEEE‑488）远程程控，内置TSP脚本能力
存储：非易失内存 + 3.5 英寸 MS‑DOS 兼容软盘，可保存 / 调用测试配置
接口：GPIB、RS‑232、测试夹具接口（支持 A1001‑A1005、A1023/A1024 等适配器）
二、产品特点
1. 宽范围、高精度源测一体化
高压大电流：覆盖16V/10A至2000V/0.05A多档位，适配从低压小信号到高压功率器件
超高分辨率：电流1nA、电压2mV，精准捕捉漏电流、击穿电压等微弱参数
Kelvin 四线测量：消除引线电阻影响，提升低阻 / 大电流测量精度
多模式输出：支持 DC、脉冲、漏电流、整流正弦等多种源模式，适配不同器件测试
2. 强大的曲线分析与显示功能
波形对比：叠加参考曲线，直观对比器件差异、温度 / 老化影响
包络显示：显示曲线极值范围，快速评估器件一致性
波形平均：抑制噪声，提升微弱信号测量稳定性
点光标：精准读取曲线上任意点的电压、电流、β、Gm 等参数
3. 全可编程与自动化能力
GPIB 程控：支持计算机远程控制，实现批量测试与数据采集
参数存储：内置非易失内存与软盘存储，一键调用复杂测试配置
阶梯信号：DC/80μs/300μs 脉冲阶梯，覆盖 0‑10 级，适配 BJT、MOSFET 等器件
兼容旧代码：支持 2400 系列指令集，便于系统迁移
11. 半导体器件研发与表征（核心场景）
分立器件：BJT、MOSFET、IGBT、二极管、晶闸管、SCR 的 I‑V、击穿电压、漏电流、β、Gm 测试
光电器件：LED、激光器、光电二极管、太阳能电池的伏安特性与光功率关联测试
参数提取：SPICE 模型参数提取，用于电路仿真与设计验证
失效分析：定位器件短路、开路、漏电、击穿等失效模式
2. 生产与质量控制
来料检验：验证器件参数一致性，筛选不合格品
产线测试：批量功能测试与参数筛选，确保产品质量
过程监控：监控工艺波动，及时调整生产参数
器件配对：筛选参数一致的器件，用于差分电路、功率模块等应用
3. 文档与教学
数据手册生成：绘制标准 I‑V 曲线，生成器件规格书数据
教育与培训：半导体原理、器件特性测试教学，直观展示器件工作原理