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产品介绍：
是德科技E4991A射频阻抗/材料分析仪它将为评估3 GHz范围内元件的R&D元件和电路设计人员提供创新。E4991A使用RF-IV技术，而不是反射测量技术，在较宽的阻抗范围内进行更精确的阻抗测量。基本阻抗精度为+/-0.8%。高Q精度支持低损耗元件分析。内部频率合成器以1 mHz的分辨率扫描1 MHz至3 GHz的频率。
材料评估:Agilent E4991A在宽频率范围(1 MHz至1 GHz)内提供全面的电介质/磁性材料测量解决方案。
晶片上测量:是德科技E4991A-010(安捷伦)探针台连接套件使我们能够轻松地将是德科技E4991A(安捷伦)连接到Cascade Microtech的射频探针系统，以进行晶圆阻抗测量。
温度特性评估:温度特性测试套件E4991A-007是一种用于测量元件和材料温度特性的新解决方案。该选项在-55°C至+150°C的宽温度范围内提供高度精确的温度特性分析能力，并具有强大的温度漂移补偿功能。
特点：
基本精度:+/- 0.8 %基本精度
扫描参数频率:1兆赫至3千兆赫
振荡器电平:最高1 dBm/0.5 Vrms/10 mArms
DC偏置电平(选项E4991A-001): +/- 40V或+/- 50 mA
更多功能Windows风格的用户界面
内置VBA编程功能
通过局域网接口传输数据
多功能测量选项电介质/磁性材料测量(选项E4991A-002)
可靠的片上测量(选项E4991A-010)
温度特性测量(选项E4991A-007)
RF 元件测试、导电材料与纳米材料、磁性材料研究、介电材料研究