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PLM-100 是圣德科（Santec）推出的紧凑型台式偏振相关损耗（PDL）测试仪，专为光通信器件在研发与品控场景中的高精度、高效率 PDL 测量而设计。
参数详情
PDL 分辨率: 0.001 dB，单次测量时间 <1 秒，支持 4 态/6 态 Mueller 矩阵法
反向反射选项允许从0到-75 dB的BR测量，精度为±0.4 dB
PLM允许多达4个外部输入(1260 - 1650 nm)或内部源(1310/1490/1550/1625 nm)和双输出选项的组合，以实现最大的灵活性。可根据要求定制波长
保偏光纤器件
光通信模块（如隔离器、耦合器、WSS）的 固定波长 PDL 验证
适用于科研院所
企业实验室及产线来料检验