安捷伦 4156B 半导体参数分析仪是用于半导体器件、材料及电子元件电气特性测试的专业仪器，可实现高精度的电流电压参数测量，广泛适用于研发、生产等场景的器件性能分析。其特点如下：

宽范围高精度测量：电流测量覆盖 1fA 至 1A，偏移精度达 20fA；电压测量范围 1μV 至 200V，满足不同器件的精密测试需求。

多样测量模式：支持直流 / 脉冲模式的全自动 IV 扫描，可扩展至 6 个源测量单元（SMU），同步实现多参数测试。

灵活时域分析：时域测量范围 60μs 至可变间隔，最多可采集 10,001 个点，适配不同时间尺度的特性分析。

便捷操作设计：具备类曲线跟踪器的旋钮扫描功能，搭配自动分析功能，简化测量与数据处理流程。