product-media-img
product-nav-img

NI 6583 FlexRIO 国家仪器NATIONAL INSTRUMENTS NI 6583 混合式可编程电平高速数字 I/O FlexRIO 适配子模块

供应商:深圳市晧辰计量检测科技有限公司
品牌:NI国家仪器
型号:NI 6583 FlexRIO
产地及成色:进口二手
更新时间:2026-07-15 10:38:20
浏览次数:357
产品价格: 面议
供应商联系方式:13631536101
  • 产品详情
  • 在线询价
  • 应用领域

该设备是配套 PXIe FlexRIO FPGA 主板使用的前端数字 IO 子卡,不能单独工作,与 PXIe-7966R 等 FPGA 模块组合可搭建全自定义高速数字测试仪器。集成单端与 LVDS 差分双通道信号接口,单端通道支持 1.2V 至 3.3V 连续可编程电平,依靠 10 位 DAC 实现精细电压调节,兼容各类主流半导体芯片 IO 标准。硬件最高 200MHz 采样时钟,单通道速率可达 300Mbps,每一路通道独立设置输入输出方向,通道切换延迟低至 9ns,时序确定性强。

参数详情

适配主机:全系列 FlexRIO FPGA 模块(Virtex‑5/Kintex‑7)

通道配置:32 路双向单端数字 IO+16 路 LVDS 差分双向通道,配套多路 PFI 触发通道

最大时钟频率:200MHz

单通道数据速率:300Mbps

单端逻辑电平:1.2V~3.3V,10 位 DAC 可编程调节

通道控制方式:单通道独立方向配置,切换延迟典型 9ns

信号端接:差分通道内置 50Ω 匹配电阻

外部连接器:DDC‑A VHDCI(单端)、DDC‑B InfiniBand(LVDS 差分)

时钟资源:两路独立时钟输入、两路时钟输出

硬件时序:硬件同步触发,支持 NI‑TClk 多模块同步

部件编号:781320‑01(LVDS 版本)、781320‑02(MLVDS 版本)

半导体芯片测试:FPGA、MCU、高速存储芯片数字 IO 时序激励与采集

高速通信协议原型:DDR、LVDS、SerDes 自定义协议硬件仿真验证

射频基带数字接口测试:无线通信 IQ 数字通道高速收发仿真

集成电路老化测试:多路数字引脚并行功能验证、边界扫描测试

光子与光电芯片调试:高速调制驱动、数字控制时序实时生成

航空电子数字总线开发:自定义并行数字总线实时信号仿真

实验室可重构数字仪器:无专用测试仪场景搭建自定义高速数字测量系统