晶圆缺陷光学检测设备
产品分类:
四探针测试仪(0) 薄膜应力测试仪(0) 晶圆缺陷光学检测设备(1) 光刻套刻测量设备(0) 晶圆缺陷电子束检测设备(0) 光学薄膜测量设备(0) 关键尺寸测量设备(0) 热波系统(0) 其它晶圆缺陷检测设备(0)
品牌:
全部 NOISEKENSIGLENT/鼎阳常州安柏LitePoint/莱特波特OceanOptics/海洋光学TDK-LAMBDA/日本Hitachi/日立Nikon/日本尼康HP/惠普GWINSTEK/中国台湾固纬Bruker/布鲁克ITECH/艾德克斯 HAMEG/德国惠美 Chroma/致茂 RIGOL/普源
产地分类:
全部国产进口
成色分类:
全部全新二手
