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计量检测设备,半导体,电子测试测量仪器
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- 测量功能集成:集成电流 - 电压(I-V)、电容 - 电压(C-V)和超快速脉冲式 I-V 测量功能,可同步查看和分析器件电学特性。
- I-V 源测量单元(SMU):电压范围为 ±210V,电流范围有 100mA(中功率模块)和 1A(高功率模块)可选,分辨率为 100fA,选配前端放大器可提升至 0.1fA,支持四象限操作。
- C-V 多频率电容单元(CVU):频率范围为 1kHz-10MHz,支持 C-V、C-f、C-t 等 AC 阻抗测量,内置 DC 偏置源为 ±30V(60V 差分),可扩展至 ±210V。
- 脉冲式 I-V 测量单元(PMU):脉冲电压 ±40V(80Vp-p),脉冲电流 ±800mA,采样率为 200MSa/s,具有 5ns 分辨率,支持瞬态波形捕获和多电平脉冲。
- 软件支持:配备 Clarius™基于 GUI 的软件,具有 200 多项预先配置的测试,可实现自动实时参数提取、数据绘图及分析等功能。
- 半导体器件测试1:可用于 MOSFET、BJT 等晶体管的参数测量,如阈值电压、漏源电阻等,也适用于非易失性存储器的阈值电压、耐久性测试等,还能对纳米尺寸器件的电阻、电流电压特性进行测量,为半导体器件研发和生产提供关键参数。
- 材料研究3:能帮助研究人员对半导体材料、陶瓷材料等进行电学特性测量,为新材料开发和现有材料性能改进提供数据支持,如测量材料的电阻率、电容特性等,助力分析材料内部电子结构和导电机制。
- 光电子器件检测:可用于测量光电二极管、太阳能电池等光电子器件的电流 - 电压特性曲线,帮助评估器件的光电转换效率、暗电流等性能指标,有助于提升光电子器件的性能和稳定性。
- 功率器件测试:用于功率 MOSFET 和 IGBT 等功率器件的关键参数测量,如漏电流、开关速度等,对于提高功率器件的性能和可靠性至关重要,确保功率器件在不同工况下稳定运行。
- 电子元件故障分析:当电子元件出现故障时,可通过测量其电学特性快速定位和分析故障原因,帮助工程师迅速找到故障点,为维修和改进提供依据。
- 生物传感器检定:生物传感器或 bioFET 可将生物响应转换为电信号,4200A-SCS 集成的 Clarius 软件包含用于测试 bioFET 的项目,可检定生物传感器的传输和输出特性。